nXP-1通(tōng)過一(yī)張圖像測量和(hé)檢查反射材料的表面形狀。
由于産品表面的測量隻有一(yī)個圖像，因此可(kě)以進行(xíng)飛拍，從(cóng)而實現大面積的快(kuài)速測量。可(kě)以檢查和(hé)測量通(tōng)常難 以測量的産品表面缺陷，例如(rú)大于幾微(wēi)米的晶圓芯片表面的缺陷、相機膠片的翹曲以及透明(míng)表面上(shàng)的氣泡測量。
nXP-1還可(kě)以根據要(yào)測量和(hé)安裝的産品的大小或形狀進行(xíng)定制可(kě)戶所需的規格。
本産品配有檢驗和(hé)測量的解決方案，以确保在量産生産線上(shàng)達到完美品質。