nXV-1使用幹涉法測量精确的位移和(hé)厚度。
在線格式支持實時(shí)測量。可(kě)将測量探針安裝在機械臂上(shàng)，可(kě)在移動時(shí)進行(xíng)測量，并用于各種測量任務。
此外(wài)，由于薄膜分離是可(kě)能(néng)的，它可(kě)以精确地(dì)分離表面，并提供可(kě)靠的測量值和(hé)數(shù)據，而不考慮表面上(shàng)的塗層。
通(tōng)過使用不同波長(cháng)的光(guāng)源，nXV-1測量透明(míng)産品（如(rú)薄膜和(hé)玻璃）以及不透明(míng)或粗糙産品（如(rú)矽和(hé)藍(lán)寶石晶片）的厚度。可(kě)用于厚度難以測量的産品，如(rú)二次電池（密封厚度）和(hé)PCB保形塗層。